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電鍍膜厚測試儀器$nX熒光等等層厚度測試儀應用新一代的壓電源和X光管，提產(chǎn)品的可靠性；利用新X光管的大功率提儀器的測試效率。$n測試電鍍層儀器金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定$n黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測$n主要用于固廢行業(yè)、貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行、首飾銷售和檢測機構；電鍍行業(yè)

檢測電鍍層儀器設備$nX熒光電鍍膜厚化驗儀器定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量. $n化驗膜厚儀器可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.

電鍍膜厚檢測儀設備樣品移動設計為樣品腔外部調(diào)節(jié)，多點測試時移動樣品方便快捷，有助于提升效率。 設計更科學，軟硬件配合，機電聯(lián)動，輻射安全于國標GBZ115-2002要求。 測定電鍍膜厚儀器設備不在受標準樣品的限制，在無鍍層標樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度，測試結果經(jīng)得起科學驗證。

鍍層化驗機器設備 產(chǎn)品指標： 測厚技術：X射線熒光測厚技術 測試樣品種類：金屬鍍層，合金鍍層 測量下限：0.003um

韓國電鍍膜厚檢測儀精度高 我公司銷售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀（含能量色散和波長色散型）（XRF）、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP）、電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計（AAS）、光電直讀光譜儀（OES）、氣相色譜儀（GC）、氣相質(zhì)譜儀（GC-MS）、液相色譜儀（LC）、液相質(zhì)譜儀（LC-MS）、能譜儀（EDS）、高頻紅外碳硫分析儀（CS）等等

韓國ISP鍍層厚度分析儀 單層厚度范圍： 金鍍層0－8um, 鉻鍍層0-15um, 其余一般為0-30um以內(nèi)， 可最小測量達0.001um。

電鍍鍍層光譜分析儀 技術服務 賣方向買方派遣指導安裝、服務人員。合同簽定后，賣方應負責本項目的項目經(jīng)理，負責協(xié)調(diào)賣方技術人員按雙方約定的時間去現(xiàn)場指導安裝、調(diào)試、技術交底、人員培訓等。

電鍍鍍層X光譜分析儀器 本儀器產(chǎn)品特點： 采用了Si-Pin探測器，性能穩(wěn)定，重復性和重現(xiàn)性好。 在客戶遠端請求下，我司技術人員可以遠程協(xié)助用戶解決常見操作問題（需連接因特網(wǎng)）。 可進行多達5層的多鍍層檢測。